اندازه گیری ضریب شکست و ضریب جذب غیرخطی نانو کلویید نقره به روش روبش z
thesis
- وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه الزهراء - دانشکده علوم پایه
- author سعیده رحیمی
- adviser بتول سجاد فاطمه شهشهانی زهرا دهقانی
- publication year 1393
abstract
در این پایان نامه روش های مختلف روبش z برای بررسی اثرات غیرخطی و اندازه گیری ضرایب شکست و جذب غیرخطی مواد معرفی شده است. و از روش روبش z استاندارد برای اندازه گیری ضرایب شکست و جذب غیرخطی نانو کلویید نقره استفاده شده است.
similar resources
اندازه گیری نمایه ضریب شکست میکروعدسی تخت با ضریب شکست تدریجی به روش عددی
در این مقاله،با استفاده از الگوی تداخلی نیمه دایروی بدست آمده از تداخلسنجی برشی کلی شکل نمایه ضریب شکست تدریجی میکروعدسی تخت با ضریب شکست تدریجی ساخته با فرآیند تبادل یونی تعیین میشود. در ادامه با شبیهسازی انتشار باریکه گاوسی از این میکروعدسی تخت توسط نرم افزار optiwave فاصله کانونی و نیم پهنای موج محاسبه میشود. همچنین نشان میدهیم که نتایج شبیهسازی با نتایج تجربی بدست آمده از نمایه، توافق...
full textاندازهگیری نمایه ضریب شکست میکروعدسی تخت با ضریب شکست تدریجی به روش عددی
در این مقاله،با استفاده از الگوی تداخلی نیمه دایروی بدست آمده از تداخلسنجی برشی کلی شکل نمایه ضریب شکست تدریجی میکروعدسی تخت با ضریب شکست تدریجی ساخته با فرآیند تبادل یونی تعیین میشود. در ادامه با شبیهسازی انتشار باریکه گاوسی از این میکروعدسی تخت توسط نرم افزار Optiwave فاصله کانونی و نیم پهنای موج محاسبه میشود. همچنین نشان میدهیم که نتایج شبیهسازی با نتایج تجربی بدست آمده از نمایه، توافق...
full textاندازهگیری ویژگیهای اپتیکی غیرخطّی لایههای نازک نانوساختاری مس و روی
در این مقاله لایههای نازک نانوساختار مس و روی به روش لایه نشانی لیزر پالسی تهیه شده و ضرایب جذب و شکست غیرخطی این لایهها با استفاده از روش روبش- z اندازهگیری و بررسی شده است. جزئیات پارامترهای لایه نشانی لیزر پالسی برای هر دو فلز مس و روی ارائه شده است. برای انجام آزمایش روبش- z از لیزر موج اندازۀ ضریب جذب و ضریب شکست غیرخطی لایههای نازک نانوساختاری مس و روی به کمک نمودارهای آزمایش روب...
full textمعرفی و شبیه سازی روش جدید اندازه گیری ضریب تلفات عایقی و پرمتیویته نسبی
For evaluating quality of electrical insulation, it is necessary to measure the property of insulators. Dielectric constant and loss tangent (tans) are two important parameters for determining the property of insulator. The measurement of above parameters is normally based on the time- domain and frequency-domain, which is costly and time consuming. In this study a multiple-frequency binary se...
full textMy Resources
document type: thesis
وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه الزهراء - دانشکده علوم پایه
Keywords
Hosted on Doprax cloud platform doprax.com
copyright © 2015-2023